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X射線測厚儀Fischerscope X-ray XAN222

X射線測厚儀Fischerscope X-ray XAN222

簡要描述:
X射線測厚儀Fischerscope X-ray XAN222,XDLM測量系統經常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni,Au/PdNi/Ni,Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區都是很小的結構如或突起,測量這些區域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時,就要使用開槽的準直器以獲得zui大的信號強度。

更新時間:2024-04-13

訪問量:620

廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,制藥/生物制藥,綜合

X射線測厚儀Fischerscope X-ray XAN222

FISCHERSCOPE X-RAY XAN220/222X射線熒光測量儀 商品特點

  • 菲希爾X射線測厚儀Fischer代理為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優化設計

  • 菲希爾X射線測厚儀Fischer代理配備固定的準直器和基本慮片,特別適用于貴金屬分析

  • 菲希爾X射線測厚儀Fischer代理配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),適用于更復雜的多元素分析

  • 由下至上的測量方向,可以簡便地實現樣品定位

FISCHERSCOPE X-RAY XAN220/222 X射線熒光測量儀 商品應用

  • 在珠寶和鐘表行業中的黃金和貴重金屬分析

  • 牙科行業中的材料合金分析

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